电子产品硬件测试技术的类型和级别

　　这篇电子工程师论文发表了电子产品硬件测试技术的类型和级别，我们国家对电子产品质量有着更高的要求，对于发达国家来说，电子产品的硬件测试工作数量要多余开发人员数量，论文以电子产品的硬件测试技术为切入点，探讨了电子产品硬件测试的类型和方式，从而在测试中做到有的放矢。
 

　　【关键词】电子工程师论文,电子产品,硬件

　　众所周知，电子产品的硬件测试并非只是为了要到问题。而是需要经分析问题的成因及分布特性，辅助项目管理人员找到设计环节所存在的内质弊病，进而予以有针对性的改进。同时，此类分析亦可辅助测试工作者设计出有指向性的检测方案，因此深化测试的有效性。文章将以论电子产品的硬件测试技术作为切入点，在此基础上予以深入的探究，相关内容如下所述。

　　1电子产品硬件测试技术的类型及方式

　　信号质量测试：信号质量测试即利用测试单板上的相关信号，依附于信号类型的差异，通过不同的指标去衡量信号的质量，同时对信号质量予以分析，进而找到系统设计所存在的弊病。研发工作者依附于已有的信号质量及CASLatency调试，在单板调试过程中完成对单板信号质量的整体测试，在此基础上予以详尽的记录。CASLatency测试：对板内信号CASLatency予以调试，检测信号实际CASLatency关系是否达到相应的标准，有无满足器件需求;研究设计余量，分析单板工作的稳定性。

　　开发工作者依附于既有的信号质量及CASLatency调试，在单板调试过程中完成对单板CL值(包括逻辑外部CL值)的整体测试。功能测试：对电子产品硬件功能测试是依附于硬件设计报告中的功能指标予以测试，检测设计有无达到要求。

　　容错测试通常允许存在少量的功能异常，但严格杜绝功能丧失及故障扩散等严重问题。经容错测试，还能够明确在电子产品的实际应用环节容易出现的问题，找到根源进而以降低损失。因为电子产品基本都要进行长时间的运行，因此要予以长时间的测试。个别器件若设计缺乏合理性，那么很可能在长时间的运行中体现出问题。系统的散热性能可以在长期大功率运行中得以验证。长时间的运行能够找硬件设计错存在的潜在问题。

　　长时间测试在予以单元测试及集成测试时也可以找到潜在的问题，对于各功能模块，我们都需要予以长时间的功能验证。而验证周期则要依附于电子产品的实际应用途径。针对通信类电子产品硬件，测试时间通常要超过七天。而针对各功能模块的测试，通常需要两天以上。一致性测试：即把各批次的产品分别取样，进而予以测试，在此过程中分析产品功能性是否具备一致性。要对三个不同批次的器件电子产品予以测试，而测试的内容包括主要功能测试项目，同时还要测试信号质量与CASLatency。

　　2电子产品硬件测试的级别

　　电子产品硬件测试依附于系统的繁琐性通常分为下述几个级别：(1)单元测试。针对独立功能单元予以测试;(2)集成测试。对具有集成性的下属系统予以测试;(3)系统测试。对完整的系统予以全面的测试。电子产品的硬件测试切勿只局限于一个层次，我们要忽视层次间的界限。层与层之间的配合很容易存在潜在的隐患，举例说明，单板软件和硬件逻辑配合、高层软件和单板软件的配合都很可能存在问题，因此我们可依附于下属子系统予以划分。

　　3总结

　　综上所述，电子产品的硬件测试并非只是为了要到问题。而是需要经分析问题的成因及分布特性，辅助项目管理人员找到设计环节所存在的内质弊病，进而予以有针对性的改进。同时，此类分析亦可辅助测试工作者设计出有指向性的检测方案，因此深化测试的有效性。因此对于电子产品硬件测试技术的类型，我们需要进行全面的研究，在测试过程中做到有矢可放。

　　参考文献

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　　作者：姚腾飞 张建宁 张毅博

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